《集成電路封裝測試廠設計規范》(GB51122-2015)【全文附高清無水印PDF+DOC/Word版下載】
標準編號:GB51122-2015
標準名稱:集成電路封裝測試廠設計規范
英文名稱:Code for design of integrated circuit assembly and test factory
發布日期:2015-08-27
實施日期:2016-05-01
發布單位:國家市場監督管理總局
中國標準分類:L55(微電路綜合)
國際標準分類:31.200(集成電路、微電子學)
簡介:為規范集成電路封裝測試廠的工程設計,做到安全適用、技術先進、經濟合理、節能環保,制定本規范。本規范適用于新建、改建和擴建的集成電路封裝測試廠設計。集成電路封裝測試廠設計除應符合本規范外,尚應符合國家現行有關標準的規定。
PDF質量:高清晰無水印PDF+Word版【內容可復制、可編輯、可搜索、可打印】(官方正式版、完整版,共計:60P(頁),PDF文檔大?。?.986MB)
請注意:本資源壓縮包內共含有3個版本:高清無水印PDF版、高清PDF便攜版、可編輯Word版,詳見下圖: